高性能线性扫描的太赫兹成像系统Si-based Block-impurity-band探测器
吴看淡- 150研究所中国电子科技集团公司、中国
太赫兹(太赫兹)Si-based blocked-impurity-band(龙头)探测器在太空成为压倒性的选择应用仪器,机载和成像系统。高性能线性扫描成像系统基于太赫兹Si-based围嘴探测器设计。通过低温杜瓦的优化设计和合适的光学系统,成像系统降低了背景杂散辐射,然后提高了太赫兹成像探测器的性能。4.2 k和温度的偏差为2.6 v, Si-based龙头的黑体响应率峰值检测器是23.77 A / W,而美国暗电流是4.72×10〗^(-11)和相应的响应率不均匀性小于6.8%。此外,实验结果表明,噪声等效温差()经济技术开发区的整个系统达到10可,和空间分辨率达到50µm。这项工作有利于大规模阵列集成围嘴成像系统。
关键词:太赫兹(太赫兹),成像,Si-based围嘴探测器,线性扫描,空间分辨率,(噪声等效温差)经济技术开发区
收到:2022年11月25日;接受:2022年12月15日。
版权:©2022吴道,张、张、张、陈、王。这是一个开放分布式根据文章知识共享归属许可(CC)。使用、分发或复制在其他论坛是允许的,提供了原始作者(年代)或许可方认为,最初发表在这个期刊引用,按照公认的学术实践。没有使用、分发或复制是不符合这些条件的允许。
*通信:
50张Chuansheng博士研究所中国电子科技集团公司,上海,中国
50研究所王晓东博士的中国电子科技集团公司,上海,中国